Симпозиум "Экспертиза и атрибуция произведений изобразительного и декоративно-прикладного искусства"

Владимирова О. Ф., Гарбар Н.М.,
Государственный Исторический Музей,
Локшин Е.В.,
Институт элементоорганических соединений РАН
Леменовский Д.А., Брусова Г.П.,
МГУ
Мониторинг реставрации дагерротипов с помощью инфракрасной фурье-спектроскопии отражения

В Государственном историческом музее для реставрации дагерротипов создана модифицированная методика очистки дагерротипов, основанная на последовательном использовании целого набора химических реагентов и растворителей. Безопасность методики для матрицы изображения проверена с помощью рентгенофлюоресцентного и электроно-зондового рентгеновского микроанализа.

В процессе реставрации не все дагерротипы ведут себя одинаково. Это связано с различным характером загрязняющих веществ как неорганической, так и органической природы. Знание природы находящихся на поверхности загрязнений необходимо для выбора подхода к реставрации каждого отдельного дагерротипа. К тому же надо следить за веществами, образующимися в процессе реставрации на поверхности, поскольку недостаточно полное их удаление может привести к вторичной, иногда ускоренной коррозии.

До настоящего времени не существовало метода неразрушающего контроля состава химических веществ, находящихся на поверхности дагерротипов. Необходимо было предложить метод, который позволял бы следить за процессом очистки, обнаруживать на поверхности загрязнения и устанавливать их химическую природу, а также контролировать удаление загрязнений с поверхности после реставрации. Такой метод должен быть исключительно чувствительным, поскольку толщина загрязняющего слоя во всех случаях очень мала.

Нами показана возможность использования для изучения находящихся на поверхности веществ методов ИК-фурье-спектроскопии в режимах зеркального отражения, скользящего отражения и нарушенного полного внутреннего отражения. Ввиду малой концентрации загрязнений и малой толщины поверхностного слоя получаемые спектры необычайно слабы, однако при использовании современных ИК-фурье-спектрометров (Nicolet Magna-750, США, Bruker, ФРГ), снабженных компьютерами для обработки спектров и позволяющих проводить накопление сигнала за счет его многократной записи, удастся получить спектры удовлетворительного качества.

Наиболее удобным и результативным оказался метод ИК-спектроскопии скользящего отражения (угол падения 80А). Данный метод является практически бесконтактным. Он обладает высокой чувствительностью при исследовании очень тонких поверхностных слоев. Существующая конструкция приставки к ИК-спектрометру позволяет изучать практически любой участок поверхности при различных ориентациях образца. Метод был использован нами в практической работе для мониторинга процесса реставрации 8 дагерротипов на всех стадиях химической очистки. В докладе будут приведены фотографии дагерротипов и их ИК-спектры на различных стадиях процесса очистки.

Работа выполнена при финансовой поддержке Российского Фонда фундаментальных исследований (грант Й 97-06-80178).